Cave Creek（アリゾナ州） 2016年11月10日. 米国に本部を置く高密度実装（HDP）ユーザーグループは、プリント基板材料の高周波測定における水分の影響を理解することに焦点を当てた新プロジェクトを発表します。

エレクトロニクス製品の高機能化や配線速度の40GB/secへの接近に伴い、基板材料の性能測定の重要性と要求度はますます高まっている。

フェーズ1では、誘電率（Dk）と誘電正接（Df）を高周波で測定するために業界で使用中の様々な高周波試験測定法を検討し、Dk/Df値を測定比較しました。この測定で基板材料内の水分量が重要な因子であることが確認されました。

フェーズ2は、Dk、Df、および重量増加の正確な測定のための試験手順を確立するために開始されました。重量増加は含水率を測定するために使用されます。フェーズ2の目的は重量を小数点以下4桁まで正確に測定するための試験手順を確立することのみに限定しました。

測定手順が検証されたので、このプロジェクトのフェーズ3では、高周波 Dk と Df の各測定方法における水分影響を評価することを提案しています。このプロジェクトの初期段階における試験と分析から、含水率の違いで、いくつかの積層材料ではDf値(測定値)が最大20％の差をもたらすことが判明しています。フェーズ3では低Df、中Df、高Dfの積層材料を測定する予定です。

このプロジェクトから通知リストに追加したい場合やプロジェクト参加希望の場合は、ジャック・フィッシャー（fish5er@hdpug.org ）までご連絡ください。次回のプロジェクト会議（11月上旬開催予定）のお知らせをお送りします。

HDPユーザーグループについて

HDPユーザーグループ(www.hdpug.org) は、アリゾナ州ケーブクリークを拠点とするグローバルな研究開発組織で、「エレクトロニクス機器の製造業界が高度な電子部品実装・組み立てを行う際のコストとリスクの削減」を目的としています。 この国際的な業界主導のグループは、設計、プリント基板製造、電子機器組立、環境コンプライアンスなど、業界が直面する技術的な問題に対処するための研究開発プログラムを組織し、実施しています。HDPユーザーグループは、テキサス州オースティン、シンガポール、英国ダラーにもオフィスを構えています。

詳細については、インターネット上のHDPユーザーグループのサイトwww.hdpug.org をご覧いただくか、ダリル・ライナー（darrylr@hdpug.org,phone番号 +1 480-951-1963）までお問い合わせください。